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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

北京華測*四探針測試儀器

產(chǎn)品型號:HCTZ-2S

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2023-08-28

產(chǎn)品簡介:

北京華測*四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準而設(shè)計的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測

四探針測試儀

產(chǎn)品名稱:四探針測試儀

產(chǎn)品型號:HCTZ-2S

品牌:北京華測


北京華測*四探針測試儀器產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S北京華測四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準而設(shè)計的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。

HCTZ-2S北京華測四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準。利用電流探針、電壓探針的變換,采用兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,提高度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。

測試程序控制四探針進行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)分析。

北京華測*四探針測試儀器產(chǎn)品應(yīng)用

HCTZ-2S四探針采用四探針雙電測量方法,是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配備不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

產(chǎn)品特點
1.TVS瞬間抑制防護技術(shù): 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于閃絡(luò)放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用。華測TVS瞬間抑制防護技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的防護。
2.多級循環(huán)溫度采集技術(shù): 設(shè)備采用PID算法,以及多級循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值??販睾蜏y溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度.
3.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù): 本設(shè)備不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。
4.SPWM電子升壓技術(shù):采用SPWM電子升壓技術(shù),這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。

軟件平臺

HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流、溫度、時間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料測試多樣化的需求。

測試系統(tǒng)的軟件平臺hcpro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性和安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),兼容XP、win7win10系統(tǒng)。

軟件功能

  1. 可編輯樣品名稱、牌號、試驗條件、試驗單位等;

  2. 具有試驗電壓設(shè)置功能;

  3. 可選擇試驗標(biāo)準

  4. 可選擇是否自定義或自動試驗

  5. 截止條件:時間/電壓/電流/溫度;

  6. 語音提示:可選擇是否語音提示功能。

  7. 統(tǒng)計報告:可自定報表格式

  8. 可生出PDF、CSV、XLS文件格式

  9. 分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。


技術(shù)參數(shù)

測量范圍

 阻:1×10-4~2×105Ω,     分辨率:1×10-5~1×102Ω

電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm,  分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻:5×10-4~2×105Ω/□,  分辨率:5×10-5~1×102Ω/□

數(shù)字電壓表

  1. 量程:20.00mV~2000mV

  2. 誤差:±0.1%讀數(shù)±2字

數(shù)控恒流源

  1. 量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1A

  2. 誤差±0.1%讀數(shù)±2字

四探針探頭

  1. 碳化鎢探針:Ф0.5mm,直流探針間距1.0mm,探針壓力:0~2kg可調(diào)

  2. 薄膜方阻探針:Ф0.7mm,直流或方形探針間距2.0mm,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)

注意事項

1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書,規(guī)范操作

2、輕拿輕放,避免儀器震動,水平放置,垂直測量

3、儀器不使用時請切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,避免灰塵進入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測試結(jié)束,套好護套,避免人為斷針



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