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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

高溫絕緣電阻測試儀 固體三電極測量方法

產(chǎn)品型號:

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-05-22

產(chǎn)品簡介:

高溫絕緣電阻測試儀系統(tǒng)采用由固體三電極測量方法,測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng),滿足固體絕緣材料因溫度變化對電阻值變 化的測量要求,可以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化 的曲線。高溫絕緣電阻測試儀 固體三電極測量方法

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測

高溫絕緣電阻測試儀


一、產(chǎn)品概述

 高溫絕緣電阻測試儀系統(tǒng),該系統(tǒng)根據(jù)GB/T 10581-2006-t 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗絕緣材料研發(fā)同時參考GB/ T410-2006_固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法以及ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計 的。
 采用由固體三電極測量方法,測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng),滿足固體絕緣材料因溫度變化對電阻值變 化的測量要求,可以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化 的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進(jìn)行測試,可以廣泛用于其它結(jié)構(gòu)型高分子絕緣材料、復(fù)合絕緣材料等材料的電阻率 測量。 過測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線。


二、系統(tǒng)特點:

1、可以測量高溫、真空、氣氛下絕材料的電阻及表面、體積電阻率;
2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進(jìn)行可視化操作;
3、可實現(xiàn)純凈氣氛條件下的測量;同時保證測試電極在高溫下不氧化;
4、采用labview軟件開發(fā),操控性、兼容性好、方便升級;
5、采用TVS防護(hù)系統(tǒng)保定系統(tǒng)的安全與防護(hù);
6、控溫和測溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度;
7、可配套使用Keithley6485或6487皮安電流表;


三、產(chǎn)品應(yīng)用:

復(fù)合絕緣材料

陶瓷材料

云母

玻璃材料

導(dǎo)電功能薄膜材料

絕緣超材料

硅橡膠材料

PCB材料


四、系統(tǒng)優(yōu)勢:

● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù): 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于閃絡(luò)放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),將起到對控制系統(tǒng)的防護(hù)。

● 多級循環(huán)溫度采集技術(shù): 設(shè)備采用PID算法,以及多級循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值??販睾蜏y溫采用同一個傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實際溫度.

● 雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù): 本設(shè)備不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷電源。采用低通濾波電流檢測技術(shù)以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。

● SPWM電子升壓技術(shù)采用SPWM電子升壓技術(shù),這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。

● 測試電壓大可達(dá)到2000V 目前測試電阻率儀器大測試電壓為1000V。本設(shè)備高測試電壓可達(dá)2000V。大量程可測到17次。


五、技術(shù)參數(shù):

●HRMS-900高溫絕緣電阻測量系統(tǒng)
●溫度范圍:室溫-1000℃;
●顯示精度:±0.1℃;
●控溫精度:±1℃;
●升溫斜率:3℃/min(典型值);
●電阻:50-1015Ω;
●電阻率:103-1017Ωcm;
●樣品尺寸:直徑小于30mm,厚度小于4mm;
●測試電壓:2000V
●電極結(jié)構(gòu):三電極法;
●電極材料:鉑金電極
●絕緣材料:99氧化鋁陶瓷;
●夾具輔助材料:316L不銹鋼。
●設(shè)備尺寸:680mmX450mmX400mm




高溫絕緣電阻測試儀  固體三電極測量方法

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