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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：Huace FE
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2024-09-10
產(chǎn)品簡介：
華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀 內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) | 內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) | ±10V （可外接不同型號(hào)放大器） |
|---|---|---|---|
| 可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊） | ±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV | ADC位數(shù) | 18位 |
| zui小電荷分辨率 | <10fC | zui大電荷分辨率 | 27.6mC |
| zui小面積分辨率 | <1μ2 | zui大面積分辨率 | >100cm2 |
| zui大電滯回線測(cè)試頻率 | 270KHz @10V | zui低測(cè)試頻率 | 0.03Hz |
| 最小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) | 0.5us |
華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹：
華測(cè) 鐵電性能綜合測(cè)試儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV， Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、 脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM (8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。
可擴(kuò)展部件：
可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。
塊體測(cè)試夾具： 用于厚膜、塊體鐵電、 擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。
薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃ 可用于厚膜鐵電、壓電 （e31）、熱釋電測(cè)試。
薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)： -196℃到+600℃ 可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。
薄膜探針臺(tái)（國產(chǎn)）： 室溫鐵電測(cè)試 可用于薄膜和厚膜室 溫鐵電性能測(cè)試
鐵電主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用，軟件系統(tǒng)兼容主流品牌，軟件無縫切換。為用戶降低成本。
█ 介電測(cè)試分析模塊
█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC
█ 擊穿電壓測(cè)試
█ 高壓極化
█ 絕緣電阻測(cè)試
█ 四探針測(cè)試
█ 壓電測(cè)試
█ 鐵電參數(shù)測(cè)試
█ 熱釋電測(cè)試
█ 居里溫度測(cè)試
