服務熱線
010-86460119
歡迎訪問北京華測試驗儀器有限公司網(wǎng)站
產(chǎn)品型號:華測系列
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
所在地:北京市
更新日期:2024-11-12
產(chǎn)品簡介:
品牌 | 華測 |
---|
隨著能源需求的不斷增加以及對環(huán)境友好能源的需求,新型能源儲能材料的研究成為了當前的熱門領(lǐng)域之一。在開發(fā)新一代的儲能新材料時,對其性能的測試與分析是至關(guān)重要的一環(huán),儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng)可以通過各功能測試模塊,系統(tǒng)的幫組科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、安全性四個方面對新材料性能進行分析檢測,評估材料的性能指標,判斷是否符合應用要求。
01.電壓擊穿(介電場強)
由能量密度可知,擊穿場強相對于介電常數(shù)對于材料能量密度的影響更為突出,獲得高能量密度對復合材料擊穿場強提出了更高的要求。
通過上位機系統(tǒng)控制高壓擊穿測試模塊,可以安全、便捷、準確的對測試樣品進行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗,測試出擊穿場強。甚至可以通過測試軟件設置直流輸出時間,以完成樣品的極化過程。
02.高低頻介電頻譜、溫譜
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲能新材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。
03.高溫絕緣電阻
高精度的電壓輸出與電流測量,即使在高低溫環(huán)境下可能很好的屏蔽背景電流,保障測試品質(zhì),適用與儲能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測。
04.熱釋電測試
不論是薄膜還是塊體形式的儲能材料,都可對其進行熱釋電性能測試。采用電流法進行測量,材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
05.TSDC熱刺激極化電流
熱刺激電流(TSC)是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運輸特性的工具,同時也是研究熱點材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運動的重要手段。諸如:分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)介電特性、
06.充放電儲能密度測試
用于研究介電儲能材料高電壓放電性能,同目前常見的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質(zhì)能量密度,測試時,樣品的電荷釋放至高壓源上,而非釋放至負載上,也就是說,通過電滯回線測得的能量密度會大與樣品實際釋放的能量密度,不能正確評估儲能材料的正常放電性能。華測充放電測試具有專門設計的電容放電電路來測量,首先將測試材料充電到給定電壓,之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān),將存儲在儲能材料中的能量釋放到電阻器負載中,更符合電介質(zhì)充放電原理。
07.電聲脈沖法空間電荷測量
空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴散和漂移運動所導致的,在材料的局部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積,從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)。空間電荷的存在對材料的電學性能有著重要的影響,可能導致電場畸變、絕緣性能下降等問題。
電聲脈沖法(PEA)空間電荷測試可以便捷準確地測量固體儲能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測量較厚的介質(zhì),可以在帶電狀態(tài)下直接測量絕緣測試樣品中的空間電荷分布,最小可測空間電荷密度為4μC·cm-3,最小可測試樣厚度為0.2mm。
08.靜電電壓
靜電是一種處于靜止狀態(tài)的電荷,雖然其總電荷量不大,但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對周邊電路、設備乃至人員造成損害。對儲能材料的靜電性能(包括面電荷密度與電阻)進行測試,可以對后期防靜電工程設計和改善儲能系統(tǒng)的抗靜電性能設計提供數(shù)據(jù)支持,對周圍電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。
功能 | 測試儀表 | 測試環(huán)境配件/夾具 | ||
電壓擊穿(介電場強) | 高壓電源 | 變溫油浴槽 溫度范圍:RT~250℃(視絕緣介質(zhì)性能) | ||
高低頻介電溫譜 | 阻抗分析儀 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍:-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍:RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍:-185℃~450℃ |
高溫絕緣電阻測試 | 高阻計/源表 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍:-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍:RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍:-185℃~450℃ |
熱釋電測試 | 高阻計/靜電計 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍:-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍:-185℃~450℃ | |
TSDC熱刺激電流測試 | 高阻計/靜電計 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍:-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍:-185℃~450℃ | |
充放電儲能密度測試 | 充放電測試模塊 | 變溫測試盒 溫度范圍:RT~250℃(視絕緣介質(zhì)性能) | ||
靜電電壓 | 高阻計/靜電計 | 靜電變溫測試罐 溫度范圍: | ||
空間電荷測試 | 示波器+高壓電源+功率放大器 | 電聲脈沖法空間電荷測試夾具 |
拓展資料
能量密度常用計算公式:
式中:Uc為電容器的充電能量密度;Ud為電容器的實際放電能量密度;E為外加電場;D為電位移;Dmax為最大電位移;Dr為剩余電位移;ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù);εr為電介質(zhì)的相對介電常數(shù);Eb為擊穿場強;η為充放電效率。
儲能新材料電學綜合測試/高低頻介電溫譜
儲能新材料電學綜合測試/高低頻介電溫譜